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能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以完全可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，最近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。
配備只針對RoHS法規有害5元素+氯元素所需的篩選分析功能
盡可能將需要熒光X射線分析知識的操作步驟自動化，可進行RoHS法規5元素+氯元素（選配）的高速篩選分析。EDX-LE從開始分析到得到結果只需要（根據樣品）約1分鐘。不僅可進行高速篩選分析，同時維持了高可信性的分析水平
配備篩選輕松設定功能，能夠根據管理方法輕松自定義
在日常操作中根據產品的不同會經常變更管理值，而該產品可以根據管理方法對篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報告所有操作都可以更有效的進行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權限限制設定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權限的人員由于誤操作而改變條件的現象。
篩選分析的簡單設定
根據材質和元素設定閾值。根據閾值的輸入方法來變更篩選分析的判定方式。閾值設定可依據根據材質的不同所顯示的閾值下限。
在分析報告中如何表示分析結果“低于閾值”“灰色區域”“閾值范圍內”，也可自定義設置。
分析報告的模版也可以設定。可在隨機附帶的模版中選擇。
條件保護功能
通過輸入密碼可變更篩選分析條件和環境設定等各類設定條件，從而提高軟件操作的安全性和保密性。
RoHS、鹵素、Sb元素篩選分析套件
在RoHS/ELV、鹵素篩選分析基礎上實現Sb元素的測定
無需改造硬件
僅需替換管理樣品
RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能夠在「同一條件」下進行測定
※初次導入時需要本公司工程師進行軟件設定的變更及性能確認。
※根據使用環境的不同有可能出現需要軟件升級的情況。
規格
| 材 質 | 聚乙烯樹脂 |
| 大 小 | 48mm |
| 厚 度 | 5mm |
| 添加元素 | Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb |
可以同時進行Sb元素的篩選分析
RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素能夠在“同一條件”下進行測定。
EDX-LE測定Cl、Sb
塑膠中Cl、Sb
塑膠中Cl、Sb不同濃度の光譜比較
和RoHS篩選分析同樣，EDX-LE 也可進行Cl、Sb的篩選分析。特別是Cl篩選分析可直接在大氣環境下進行，大氣環境中Ar和Cl的峰值區分明顯。
RoHS/ELV篩選專用機型EDX-LE同樣具備一般分析功能！
導入后特點
1. 可進行RoHS/ELV對象元素以外的定性·定量分析！
2. 根據分析目的的不同，可設定詳細的分析條件和解析條件！
3. 可通過薄膜FP法分析多層膜的膜厚、組成及其附著量！
4. 可通過匹配功能進行鋼種及種類的判斷！
使用功能追加套件的分析實例
分析實例（左：不銹鋼的定性?定量分析，右：鍍層的膜厚測定）
匹配功能（鋼種、種類判斷）
匹配結果
注）根據樣品材質、膜層材質及膜厚的不同，有可能出現不適用本套件的情況。
