梅特勒電子天平托利多Mettler Toledo XPE微量電子天平

發布時間：2018-04-03

XPE 微量分析天平將最大秤量與最小秤量有機的結合在一起。可直接在較大的去皮容器中加樣，從而有效的節省貴重的原材料并大幅降低實驗成本。 XPE 微量分析天平對微量樣品同樣具有卓越的準確性。快速、輕松、安全

StatusLight 狀態指示燈通過顏色直觀指示天平狀

態綠色表示準備就緒，黃色表示警告，超出稱量

范圍等錯誤用紅色表示。

合規性一目了然。量何時達到規范要求

新型內置技術能夠自動檢測靜電，并在結果超出允差范圍時警告用戶。為了獲得更高的過程安全性，可采用抗靜電法中和電荷并確保獲得最準確的結果。

獨特的 SmartGrid 網格秤盤最大程度地減小了空氣湍

流效應，與傳統的秤盤相比，穩定時間極大的縮短。

不間斷連續稱量 – 任何溢出的樣品會通過網格而落至

托盤之上，從而不會對稱量結果產生任何影響。簡單且

安全可靠。

S梅特勒-托利多的 LabX實驗室軟件可在天平觸摸屏上

顯示的靈活的 SOP 用戶指南。利用自動數據處理、計算

和報告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實現過程安

全性和可追溯性要求，并支持您實現無紙化實驗室。

采用智能設計的 ErgoClips 易巧組件來直接稱量更

準確、更快，可適合任何工作環境。為了盡可能獲得

更快的穩定時間，必須使用內置微量防風門

更大限度的降低交叉污染風險：內外防風罩的每個面都可輕松拆卸，并可瞬間清潔！

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